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標題: NB/T 47013.11-2015 《承壓設備無損檢測 第11部分：X射線數字成像檢測》 第1號修改單 [打印本頁]
作者: XinZeSteeL 時間: 2024-11-21 15:32
標題: NB/T 47013.11-2015 《承壓設備無損檢測 第11部分：X射線數字成像檢測》 第1號修改單
本修改單經國家能源局于2018年5月14日以第7號公告批準，自2018年7月1日起實施。
① 第2章“GB/T 23903 射線圖像分辨力測試計”后補充新條文：
“GB/T 26592 無損檢測儀器 工業X射線探傷機性能測試方法
GB/T 26594 無損檢測儀器 工業用X射線管性能測試方法”
第2章“NB/T47013.2 承壓設備無損檢測 第2部分：射線檢測”后補充新條文：
“JB/T 11608 無損檢測儀器 工業用X射線探傷裝置”
② 4.1.1條中更改用語：
“并取得《放射工作人員證》”更改為“并按照有關法規的要求取得相應證書”。
③ 4.2條中更改用語：
“檢測系統”更改為“檢測系統與器材”。
④ 4.2.1.2條后補充新條文，4.2.1.3 ：
“采用的X射線機，其性能指標應滿足JB/T11608的規定，使用性能測試條件及測試方法參考GB/T26594 和GB/T26592的規定。”
⑤ 4.2.2.4 條改用新條文：
4.2.2.4“壞像素要求：面陣列探測器3×3像素區域中，相鄰壞像素不得超過3個；成行（成列）壞像素不得超過3個，且不得位于距離中心位置200像素以內；成像區域內壞像素不超過總像素的1%。線陣列探測器中，相鄰的壞像素不允許超過2個。探測器系統供應商應提供出廠壞像素表和壞像素校正方法。”
⑥ 在4.2.2.5后補充新條文，4.2.2.6和4.2.2.7：
“4.2.2.6探測器系統性能指標如：壞像素、對比靈敏度、分辨率、信噪比、線性范圍、厚度寬容度、殘影等，其測試條件及測試方法按相應國家或行業標準的規定執行。”
“4.2.2.7探測器系統質量合格證中至少應給出探測器類型、轉換屏參數（如有）、像素尺寸、成像面積、射線能量適用范圍、量子轉換效率、填充因子、采集幀頻等技術參數。”
⑦ 4.2.4.6條中更改用語：
“根據評定結果”更改為“自動”。
① 4.2.6條改用新條文：
4.2.6 “像質計
4.2.6.1本部分采用的像質計包括線型像質計和雙線型像質計。
4.2.6.2線型像質計的型號和規格應符合GB/T 23901.1的規定，雙線型像質計的型號和規格應符合GB/T 23901.5的規定。”
② 4.2.6條后補充新條文，4.2.7、4.2.8：
“4.2.7檢測系統使用性能
應結合被檢工件和本部分要求，根據檢測系統各部分性能指標選擇合適的檢測設備和器材，并提供滿足上述設備和器材性能指標及系統軟件功能的測試證明文件。檢測系統的使用性能應滿足本部分規定的圖像質量要求。”
“4.2.8校準或運行核查
4.2.8.1 每年至少對探測器系統性能中的壞像素、線性范圍、信噪比、厚度寬容度、殘影等進行1次校準并記錄。
4.2.8.2 每年至少應對使用中的曝光曲線進行1次核查。當射線機重要部件更換或經過修理后，應重新制作曝光曲線。
4.2.8.3 每3個月至少對探測器壞像素進行1次核查，并記錄和校正。
4.2.8.4 存在如下情況應進行系統分辨率核查并記錄，核查方法按附錄A執行。
a）檢測系統有改變時；
b）正常使用條件下，每3個月應至少核查一次；
c）在系統停止使用一個月后重新使用時。”
③ 5.4.1.2條后補充新條文，5.4.1.3：
“由于結構原因不能按照5.4.1.1或5.4.1.2規定的間隔角度進行多次透照時，經合同雙方商定，可不再強制限制5.4.1.1或5.4.1.2規定的間隔角度，但應采取有效措施盡量擴大缺陷可檢出范圍，并保證圖像評定范圍內信噪比、靈敏度和分辨率滿足要求，并在檢測報告中對有關情況進行說明。”
11 5.4.2條改用新條文：
5.4.2“不要求100%檢測的小徑管環向焊接接頭的透照次數由合同雙方商定，并保存相關記錄。
12 將6.1.1.3條中的“線型像質計的型號和規格應符合GB/T 23901.1的規定”刪除。
13 將6.1.1.4條中的“雙線型像質計的型號和規格應符合GB/T 23901.5的規定”刪除。
14 6.1.2.1.2條中更改用語：
“雙壁單影透照時”更改為“雙壁單影或雙壁雙影透照時”
15 6.1.3.1條改用新條文：
6.1.3.1“雙線型像質計應放在射線機側。當采用雙壁單影透照方式時，可放在探測器側。”
16 6.1.3.2.1條中更改用語：
“被檢測區長度的1/4左右位置”更改為“靠近被檢焊縫”。
17 在6.1.4.2條句尾補充“對于小徑管雙壁雙影透照方式，透照厚度應取管子直徑。”
18 在6.1.4.3條句尾補充:
“注：對于使用裂紋敏感性材料或標準抗拉強度下限值Rｍ≥540MPa高強度材料進行檢測時，不得采取補償。”
19 6.2.5.2條第一行中更改用語：
“透照規格”更改為“透照參數”。
20 在A.5.1 a）條句尾補充：
“在條件受限情況下，可適當減小F，但應保證檢測系統的幾何不清晰度不大于探測器像素尺寸的5%。”
21 在A.5.2后補充新條文，A.6：
“系統分辨率應滿足表4或表5的要求，用于小徑管雙壁雙影透照方式檢測時，表中透照厚度應取2倍管子壁厚。”
22 D.1中第5行中更改用語：
“P—探測器像素大小（μm）”更改為：“P—分辨力（μm）；
注：測量系統歸一化信噪比時，P為系統分辨力；測量圖像歸一化信噪比時，P為圖像分辨力”。
23 D.2條改用新條文：
D.2“信噪比測量是指在均勻區域（圖像信噪比指熱影響區或焊縫附近的母材、無缺陷處），取面積不小于20像素×55像素的矩形區，計算此區域的均值和標準差，按照信噪比定義得到測量信噪比SNRm。”
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